可对离子迁移・绝缘电阻值进行高精度・高信赖性・高效率的评价。
从当今的地球・市场环境来看，省能源・铅/无卤素・小型轻量・低价格・高信赖等观点出发的，
新素材・新实装方法的研究开发・评价方法的重估是必须的。
j-ras公司把握市场的需要，为您提供容易操作而且可以进行高信赖性评价试验的，
新时代离子迁移实验装置 ecm-100系列。
简介：离子迁移实验装置是一种信赖性试验设备，原理为印刷电路板上给予一固定的直流
电压（bias voltage）,经过长时间的测试（1～1000小时）并观察线路是否有瞬间短路的
现象发生（ion migration）,并记录阻抗变化状况，故又叫做caf试验，绝缘阻力电阻试验，或者是open/short试验，我们将其统称为绝缘劣化试验。（ion migration testing）
适用规格：jpca-et01-2001
每个ch的电压印加・高速16msec计测回路
本体单体可以进行计测・试验槽制御
详细资料请联系：深圳市世纪天源仪器有限公司
简单操作以及充实机能
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项目
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规格・性能・其他
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筺 体
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型式
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ecm-100/40-n (n:channel数)
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ecm-100/100-n (n:channel数)
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筺体型式
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40ch型（Zui大4计测组合）
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100ch型（Zui大10计测组合）
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筺体寸法
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265w×330.3d×405h（突起部除外）
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417.4w×330.3d×405h（突起部除外）
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消費电力
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大约70va（4计测组合实装時）
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大约130va（10计测组合实装時）
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重量
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大约16kg（4计测组合实装時）
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大约25kg（10计测组合实装時）
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使用电源
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ac100v 50/60hz
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计测 组合
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计测channel数
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10ch
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计测电阻值范围
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2kω～10tω
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dcbias印加
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电压范围
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2范围 （1.0～30.0v，30.1～300.0v）
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电压范围设定
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1组（5ch）
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电压级别设定
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channel个别
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设定分解能
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0.1v
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设定精度
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±〔0.3％(f.s.)+0.5〕v
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Zui大输出电流
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700μa／ch
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dcbias计测
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计测范围
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2范围（0～33v、0～330v）
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计测精度
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±〔0.3％(f.s.)+0.5〕v
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计测分解能
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0.1v～（整数+小数点以下1行表示）
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ad转换器
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24bits⊿∑ad转换器／ch
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计测速度
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16msec／10ch
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电流计测
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计测方式
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channel个别high-side电流计测方式
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计测范围
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5范围（～500μa，～50μa，～2.5μa，～125na，～6.25na）
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计测范围设定
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channel个别指定或者 自动范围
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计测精度
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±0.3％（f.s.）
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计测分解能
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1pa～（有効数字4行表示）
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ad转换器
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24bits⊿∑ad转换器／ch
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计测速度
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16msec／100ch
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c p u 组合
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制御channel数
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5～100ch（5channel単位）
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数据收录
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试验制御単位
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1组（5ch）
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试验设定小时
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1分～9999小时
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收录间隔（定期）
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1分～60分
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收录间隔（ecm发生時）
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16msec
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记录媒体
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compact flashcard
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其他
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主pc通信机能
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lan接触口×1
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环境试验机通信机能
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rs-232c接触口×2
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外部输入1
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接点输入×4 （联动装置，紧急停止制御可）
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外部输入2
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电压输入(1-5v)×2，电流输入(4-20ma)×2 （温度・湿度记录可）
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自动校正
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bias输出補正，異常leak电流检测
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计测线
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由于制品的改良・改善，我们可能会对规格和外観等进行変更。敬请原谅。
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triaxial线 （耐热温度：200度，被膜材质：特氟隆树脂）
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